Higher resolutions, wider color gamuts, faster clock speed, and new applications in AR/VR/MR are placing increasing demands on display measurement technology. At SID Display Week 2026, taking place 5–7 May 2026 in Los Angeles, Instrument Systems will present innovative solutions for the precise characterization of modern displays at booth No. 845 – in collaboration with […]
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Höhere Auflösungen, größere Farbräume, schnellere Taktraten und neue Anwendungen in AR/VR/MR stellen steigende Anforderungen an die Displaymesstechnik. Auf der SID Display Week 2026 vom 5. bis 7. Mai 2026 in Los Angeles präsentiert Instrument Systems am Stand Nr. 845 innovative Lösungen für die präzise Charakterisierung moderner Displays – konzernübergreifend mit Konica Minolta Sensing Americas. Im […]
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Instrument Systems GmbH, a leading provider of high‑precision light measurement technology and part of the Konica Minolta Group, has appointed Dr. Marc Lünnemann as its new Chief Executive Officer (CEO). Dr. Lünnemann started in his new role on January 1st, 2026. With more than 20 years of international experience in the lighting, automotive, and display […]
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Die Instrument Systems GmbH, führender Anbieter hochpräziser Lichtmesstechnik und Teil der Konica Minolta Gruppe, gibt die Ernennung von Dr. Marc Lünnemann zum neuen Chief Executive Officer (CEO) bekannt. Dr. Lünnemann hat die Position zum 1. Januar 2026 übernommen. Mit mehr als 20 Jahren internationaler Erfahrung in der Licht-, Automobil- und Displayindustrie bringt Dr. Lünnemann umfassende […]
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Instrument Systems presents its new camera system LumiTop X30 AR and a broad range of advanced optical measurement solutions at SPIE AR|VR|MR 2026 and SPIE Photonics West 2026 in San Francisco, USA. At SPIE AR/VR/MR and Photonics West from 17–22 January 2026 in San Francisco, Instrument Systems will showcase its latest high‑accuracy measurement systems in […]
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Instrument Systems präsentiert auf der SPIE AR|VR|MR 2026 sowie der SPIE Photonics West 2026 in San Francisco (USA) sein neues Kamerasystem LumiTop X30 AR sowie ein breites Portfolio fortschrittlicher optischer Messlösungen. Vom 17. bis 22. Januar 2026 stellt Instrument Systems auf der SPIE AR/VR/MR und der SPIE Photonics West seine neuesten hochpräzisen Systeme der optischen […]
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With the release of SpecWin Pro 5.0, the comprehensive software for all spectrometers from Instrument Systems, the company presents a series of significant enhancements that further improve accuracy, flexibility, and efficiency in spectral light measurement. Expanded Goniometer Functions for Complex Beam Characteristics The update will primarily focus on the goniometer module, which has been expanded […]
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Mit dem Release von SpecWin Pro 5.0, der umfassenden Software für alle Spektrometer von Instrument Systems, stellt das Unternehmen eine Reihe bedeutender Weiterentwicklungen vor, die die Genauigkeit, Flexibilität und Effizienz in der spektralen Lichtmesstechnik weiter erhöhen. Erweiterte Goniometer-Funktionen für komplexe Abstrahlcharakteristiken Ein Schwerpunkt des Updates liegt auf dem Goniometer-Modul, das um mehrere leistungsstarke Funktionen erweitert […]
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Expansion of the product portfolio with a modular, vehicle-based measurement solution: the STA Stand-Alone Screen Photometer combines the LumiCam 4000B imaging luminance camera with the new ACS 635 calibration source. The measurement system enables fast, high-resolution photometric and geometrically corrected testing of automotive headlamps, including adaptive lighting functions. The ACS 635 provides a high‑intensity, homogeneous […]
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Das STA Stand‑Alone Screen Photometer ergänzt das Produktportfolio von Instrument Systems um eine modulare, fahrzeugbasierte Messlösung, die die bildgebende Leuchtdichtekamera LumiCam 4000B mit der neuen Kalibrierquelle ACS 635 kombiniert und schnelle, hochauflösende photometrische und geometrisch korrigierte Prüfungen von Fahrzeugscheinwerfern, einschließlich adaptiver Lichtfunktionen, ermöglicht. Die Entwicklung und das Benchmarking moderner Scheinwerfersysteme erfordern schnelle, quantitative und qualitative […]
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