Autor: Firma Instrument Systems

LumiTop guarantees the quality of μLED arrays in AFS applications

Due to the intelligent combination of instantaneous spectroradiometric reference measurement and camera-based color- and brightness measurement, the LumiTop system from Instrument Systems is predestined for use in the quality inspection of µLED modules.  At Light+Building in Frankfurt Hall 8.0 H38, Instrument Systems will be showcasing its spectrally exhanced LumiTop 4000 2D imaging colorimeter for testing […]

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LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen

Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen.  München, September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die 12 MP Kamera misst […]

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Instrument Systems extends its core business segments Display Testing and Optical Measurement

Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), a German manufacturer of high-precision spectroradiometers, cameras and complex display and light measurement systems, has extended its core business segments Display Testing and Optical Measurement through the acquisition of a Korean manufacturer of display measurement systems. A share purchase agreement has been signed to acquire a 100 % shareholding in […]

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Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik

Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik zu stärken. Der Kaufvertrag über den Erwerb von 100 % der Anteile an Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), seit 2005 exklusiver Distributor des Instrument Systems Produktportfolios […]

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New CIE report on spectroradiometry

Under the scientific direction of Instrument Systems, the Technical Committee TC2-80 of the CIE has prepared a new technical report on the spectroradiometric measurement of optical radiation sources. The document, published as CIE 250:2022, supersedes the almost 40-year-old report CIE 063-1984. Practically oriented, it explains the basic measurement principles and provides practical instructions for the […]

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Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von […]

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Far-field analysis of infrared sources

The infrared camera VTC 2400 from Instrument Systems was developed specifically for the far-field analysis of IR emitters and designed for use in both the lab and production environment. It is recommended for the analysis of VCSEL applications, such as 3D-sensing in smartphones or LiDAR systems in the automotive industry. The cost-effective system consists of […]

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Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezialisiert auf die Analyse von VCSEL-Applikationen, wie 3D-Sensing in Smartphones oder LiDAR-Systemen in der Automobilindustrie. Das kosteneffiziente System besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus streuenden Schirm und einer […]

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