Autor: Firma OWIS

Das FXE Instrument am European XFEL

Femtosekundenschnelle Spektroskopie mit Röntgenstrahlung ist eine Aufgabe des European XFEL, eines 3,4 km langen Röntgenlasers in der Metropolregion Hamburg. Die FXE-Gruppe (Femtosecond X-Ray Experiments) beschäftigt sich u.a. mit zeitaufgelösten Untersuchungen der Dynamik von Festkörpern und Flüssigkeiten. Hierzu wurde ein Röntgen-Emissions-Spektrometer installiert, welches 16 einzelne Beugungskristalle miteinander vereint. Jeweils drei unserer MMS 19 Stellantriebe mit nicht […]

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Applikationsbericht „Linienlaser-Alignment“

Ein perfekt eingestellter Linienlaser soll eine homogene Linie abbilden (Abb. 1). Dies stellt die Laser-Hersteller vor verschiedene Herausforderungen, wie beispielsweise die Geradheit der Linie (Abb. 2), eine homogene Intensitätsverteilung (Abb. 3) sowie die Orientierung der Laserlinie in Bezug auf das Gehäuse (Abb. 4). Um das Ziel einer homogenen Linie zu erreichen, muss eine anamorphe refraktive […]

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