Autor: Firma InfraTec GmbH Infrarotsensorik und Messtechnik

ImageIR® c7300: Focus on the Essentials

For users focused on cost-effectiveness, InfraTec now offers cameras with predefined configurations as the Compact-Line. The ImageIR® c7300 is the ideal choice for cost-conscious users looking for a compact, high-performance infrared camera with cooled photon detector technology. The first new camera in the Compact-Line series offers high measurement precision for demanding tasks, while prioritizing cost […]

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ImageIR® c7300: Fokus auf das Wesentliche

Für Anwender deren Fokus auf Wirtschaftlichkeit liegt, bietet InfraTec ab sofort Kameras mit definierter Festausstattung als Compact-Line an. Die ImageIR® c7300 ist dabei das Angebot für preisbewusste Anwender, die eine kompakte und leistungsstarke Thermografiekamera mit gekühlter Photonendetektor-Technologie suchen. Die erste neue Kamera der Compact-Line bietet eine hohe Messqualität für anspruchsvolle Aufgaben, verzichtet jedoch zugunsten wirtschaftlicher […]

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E-LIT: Thermography Test Bench Becomes Even More Efficient

InfraTec’s modular, automated E-LIT test bench enables contactless and non-destructive testing of electronic and semiconductor components. Using so-called Lock-in Thermography, in which the components are electrically excited, E-LIT can detect thermal anomalies in the mK and μK ranges, thereby locating point and line short circuits, oxidation defects, and transistor and diode faults – even in […]

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E-LIT: Thermografieprüfstand wird noch effizienter

Mit dem modularen automatisierten Prüfstand E-LIT von InfraTec können Elektronik- und Halbleiterbauelementen berührungslos und zerstörungsfrei geprüft werden. Unter Nutzung der sogenannten Lock-In-Thermografie, bei der die Bauteile elektrisch angeregt werden, lassen sich mit E-LIT thermische Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich erkennen und so Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-Defekte sowie Transistor- und Diodenfehler lokalisieren, auch in mehrlagigen Leiterplatten […]

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Online-Event: Thermografie-Anwenderkonferenz „Forschung & Entwicklung“

Our free of charge “Thermografie-Awenderkonferenz” (thermography user conference) on November 5, 2026 provides a forum for professional exchange among users from academia and industry, with a particular focus on applications of thermography for demanding tasks in research and development. Online Event “Thermografie-Anwenderkonferenz – Forschung & Entwicklung” Date: Thursday, November 5, 2026 Time: 10:00 AM – […]

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Online Event: AI-powered Processing of Thermal Data

On November 10, 2026, join our free of charge online event, “AI-powered Thermal Data Processing,” to learn more about the use of artificial intelligence to extract and analyze valuable data from thermographic measurements. Online Event “AI-powered Thermal Data Processing" with technical lectures from thermography practice: Title: "AI in Thermography – How to Analyze Faster and Save Time?" […]

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Online-Event: AI-powered Thermal Data Processing

Am 10. November 2026 erfahren Sie in unserem englischsprachigen, kostenfreien Online-Event „AI-powered Thermal Data Processing“ mehr über den Einsatz Künstlicher Intelligenz zur Extraktion und Auswertung wertvoller Daten aus thermografischen Messungen. Online-Event (Sprache: Englisch): “AI-powered Thermal Data Processing” Mit Fachvorträge aus der Thermografiepraxis: Titel: "AI in Thermography – How to Analyze Faster and Save Time?" Referent: Dr. […]

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Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits

Our free of charge InfraTec English online event "Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits" will provide you with more information about lock-in thermography as a high-precision measurement method for non-contact and non-destructive testing in electronics and electrical engineering. Online Event: “Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits” Date: […]

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Lock-In-Thermografie für Elektronik- und Halbleitermodulprüfung

In unserem englischsprachigen, kostenfreien InfraTec Online-Event „Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits“ erfahren Sie mehr über die Lock-In-Thermografie als bildgebendes Verfahren zur berührungslosen und zerstörungsfreien Prüfung in der Elektronik und Elektrotechnik. Online-Event (Sprache: Englisch) “Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits” Datum: Mittwoch, 04. November 2026 Uhrzeit: 10:00 […]

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Thermography Provides Insights into Cost-Effective Steel Production for Press Hardening

As part of the IGF project “Manufacture of high-strength, ductile components from low-alloy quenched and tempered steel using novel quenching & partitioning press hardening strategies”, infrared thermography was used for process analysis and material characterization. The work focused on thermomechanical interactions during forming. Thermographic measurements were taken both during conventional heating processes (for example, furnace […]

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