Small, lightweight, compact: The ImageIR® z6300 radiometric zoom camera from InfraTec can be used for thermographic temperature measurements in a wide variety of applications. However, the camera truly shines when it comes to endurance: A long-lasting SWaP detector cooling unit ensures consistently reliable operation. The term SWaP stands for the three parameters size, weight, and […]
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Klein, leicht, kompakt: Die radiometrische Zoomkamera ImageIR® z6300 von InfraTec lässt sich für thermografische Temperaturmessungen in den unterschiedlichsten Anwendungsfeldern einsetzen. Ihre besondere Stärke entfaltet die Kamera jedoch beim Thema Ausdauer: Eine langlebige SWaP-Detektor-Kühlereinheit sorgt für einen dauerhaft zuverlässigen Betrieb. Die Bezeichnung SWaP steht für die drei Parameter Size, Weight and Power – Größe, Gewicht und […]
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For users focused on cost-effectiveness, InfraTec now offers cameras with predefined configurations as the Compact-Line. The ImageIR® c7300 is the ideal choice for cost-conscious users looking for a compact, high-performance infrared camera with cooled photon detector technology. The first new camera in the Compact-Line series offers high measurement precision for demanding tasks, while prioritizing cost […]
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Für Anwender deren Fokus auf Wirtschaftlichkeit liegt, bietet InfraTec ab sofort Kameras mit definierter Festausstattung als Compact-Line an. Die ImageIR® c7300 ist dabei das Angebot für preisbewusste Anwender, die eine kompakte und leistungsstarke Thermografiekamera mit gekühlter Photonendetektor-Technologie suchen. Die erste neue Kamera der Compact-Line bietet eine hohe Messqualität für anspruchsvolle Aufgaben, verzichtet jedoch zugunsten wirtschaftlicher […]
Read MoreInfraTec’s modular, automated E-LIT test bench enables contactless and non-destructive testing of electronic and semiconductor components. Using so-called Lock-in Thermography, in which the components are electrically excited, E-LIT can detect thermal anomalies in the mK and μK ranges, thereby locating point and line short circuits, oxidation defects, and transistor and diode faults – even in […]
Read MoreMit dem modularen automatisierten Prüfstand E-LIT von InfraTec können Elektronik- und Halbleiterbauelementen berührungslos und zerstörungsfrei geprüft werden. Unter Nutzung der sogenannten Lock-In-Thermografie, bei der die Bauteile elektrisch angeregt werden, lassen sich mit E-LIT thermische Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich erkennen und so Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-Defekte sowie Transistor- und Diodenfehler lokalisieren, auch in mehrlagigen Leiterplatten […]
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Our free of charge “Thermografie-Awenderkonferenz” (thermography user conference) on November 5, 2026 provides a forum for professional exchange among users from academia and industry, with a particular focus on applications of thermography for demanding tasks in research and development. Online Event “Thermografie-Anwenderkonferenz – Forschung & Entwicklung” Date: Thursday, November 5, 2026 Time: 10:00 AM – […]
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On November 10, 2026, join our free of charge online event, “AI-powered Thermal Data Processing,” to learn more about the use of artificial intelligence to extract and analyze valuable data from thermographic measurements. Online Event “AI-powered Thermal Data Processing" with technical lectures from thermography practice: Title: "AI in Thermography – How to Analyze Faster and Save Time?" […]
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Am 10. November 2026 erfahren Sie in unserem englischsprachigen, kostenfreien Online-Event „AI-powered Thermal Data Processing“ mehr über den Einsatz Künstlicher Intelligenz zur Extraktion und Auswertung wertvoller Daten aus thermografischen Messungen. Online-Event (Sprache: Englisch): “AI-powered Thermal Data Processing” Mit Fachvorträge aus der Thermografiepraxis: Titel: "AI in Thermography – How to Analyze Faster and Save Time?" Referent: Dr. […]
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Our free of charge InfraTec English online event "Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits" will provide you with more information about lock-in thermography as a high-precision measurement method for non-contact and non-destructive testing in electronics and electrical engineering. Online Event: “Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits” Date: […]
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