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Vektorielle Netzwerkanalysatoren (VNAs) werden häufig zur Bestimmung der Übertragungseigenschaften (Transmissions-, Reflexionsfaktor) und der komplexen Dielektrizitätskonstante verschiedener Materialien im Millimeterwellen- und Hochfrequenzbereich eingesetzt. In den letzten Jahren ist es jedoch wichtig geworden, diese Eigenschaften über ein breiteres Frequenzspektrum zu bewerten. Aufgrund des nötigen Zeit- und Arbeitsaufwands für die Einstellung und Kalibrierung jedes einzelnen Frequenzbands zeigen sich hier VNAs häufig als problematisch.

Das optische Terahertz-Probenentnahme-System von Advantest löst diese Probleme, indem es mit gepulsten elektromagnetischen Wellen Messungen von Materialproben über ein breites Frequenzband ermöglicht. Die Durchführung der Tests ist jetzt mit einem kompakten optischen Probeentnahme-System in der Messumgebung möglich, was Kosten und Platz spart. Mit Hilfe einer Mapping-Messung können auch Frequenzeigenschaften von Oberflächen analysiert werden. Darüber hinaus sind die Frequenzauflösung und die Abtastgeschwindigkeit der neuen Option 5x so hoch wie beim Vorgängerprodukt, so dass dies eine optimale Lösung für die Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften neuer Materialien ist.

Die Lösung wird auf der Messe JASIS vom 8. bis 10. November und auf der MWE 2021 vom 24. bis 26. November präsentiert werden.

Eckdaten
Frequenzbereich                                  0,03～2 THz （Bandbreite (SNR = 1))
Frequenzauflösung                   380 MHz (Vorgängerprodukt: 1,9 GHz)
Abtastgeschwindigkeit               40 ms / Scan (Vorgängerprodukt: 200 ms / Scan)
Messgrößen                                      Transmissionsfaktor, Reflexionsfaktor, Phasendifferenz, komplexe Dielektrizitätskonstante, Verlustfaktor (tanδ)